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| 名稱 | 場發射電子顯微鏡 |
| 英文名稱 | Cold Field Emission Scanning Electron Microscope |
| 功能說明 | 1.表面結構之觀察(SEI, BEI) 2.EDS元素分析 |
| 儀器廠牌 | JEOL |
| 型號 | JSM-7500F |
| 儀器規格 |
1.解析度 2.加速電壓範圍:0.1~30 KV 3.電子槍:Cold Field Emission Electron Gun |
| 樣品準備及收費 |
訓練費用($/人)-600元 檢定費用($/人)-300元 委託操作費用($/hr)-600元 試片鍍白金:300/次 EDS 15點以內一律收600元,15點以上,實收每點200元 |
| 注意事項 |
1.試片不得具有磁性、揮發性、及腐蝕性。 4.自98年9月1日起,場發射電子顯微鏡(FE-SEM)不得拍攝高分子材料,以避免儀器損傷,未事先告知者將馬上停止拍攝,並酌收1500元開機維護費。 |
| 儀器放置位置 | 紅樓1F 微奈米科技共用實驗室 |
| 更新日期 | 2019/04/23 |
| 實驗室名稱 | 微奈米科技共用實驗室 |
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