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名稱 場發射電子顯微鏡
英文名稱 Cold Field Emission Scanning Electron Microscope
功能說明 1.表面結構之觀察(SEI, BEI)
2.EDS元素分析
儀器廠牌 JEOL
型號 JSM-7500F
儀器規格

1.解析度
a.1 nm (Acc. V=15 KV, WD=3 mm)
b.1.4 nm (Acc. V=1 KV, WD= 1.5 mm)

2.加速電壓範圍:0.1~30 KV

3.電子槍:Cold Field Emission Electron Gun

樣品準備及收費

訓練費用($/人)-600元       

檢定費用($/人)-300元       

委託操作費用($/hr)-600元     

試片鍍白金:300/次 

EDS 15點以內一律收600元,15點以上,實收每點200元

注意事項

1.試片不得具有磁性、揮發性、及腐蝕性。
2.試片大小不得大於直徑25 mm。
3.試片厚度不得超過3 mm。

4.自98年9月1日起,場發射電子顯微鏡(FE-SEM)不得拍攝高分子材料,以避免儀器損傷,未事先告知者將馬上停止拍攝,並酌收1500元開機維護費。

儀器放置位置 紅樓1F 微奈米科技共用實驗室
更新日期 2019/04/23
實驗室名稱 微奈米科技共用實驗室
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